TEM: EDS (Energy Dispersive X-Rays Spectroscopy)

Microscopía electrónica de transmisión (JEOL 2100) equipado con detector EDX (ULTIMAX, Oxford) Microscopio de fuerza atómica (Multimode 8 Bruker y controlador Nanoscope V) Microscopio óptico con luz polarizada (NIKON EclipseE600POL con placa calefactora Metler Toledo FP82HT) Cromatografia SEC-4T (OmniSEC, Malvern) y SLS/ DLS (Zetasizer, Malvern) Calorimetría diferencial de barrido a baja temperatura (DSC8500 Perkin Elmer) Espectroscopia ATR-FTIR (Spectrum One, Perkin Elmer) Medidas de angulo de contacto superficial. Espectroscopia dieléctrica (Novocontrol) Análisis reológico en los modos de torsión y extensión (DHR20, TA Instruments) y capilar (Smart Rheo, CEAST) Microrreologia DLS (Zetasizer Malvern) Microfluidica de cizalla y extensión (m-VROC II, RheoSense) Dispersión de rayos X a bajo ángulo - SAXS (Nanostar C) Asesoramiento en modelos atomísticos, de grano grueso y en la mesoescala en química, biología y materiales

El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF), y con equipamiento anexo de preparación de muestras incluyendo limpieza por plasma, y preparación de superficies y láminas delgadas. Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica. Mas detalles del laboratorio LANE pueden encontrarse en la página web http://www.lane.icmse.csic.es/ (en construcción). Estas infraestructuras ofrecen la caracterización microestructural y química especialmente en las áreas de materiales y físico-química del estado sólido. Es de especial relevancia la alta resolución analítica que permite caracterizar materiales en la nano-escala

El servicio realiza microscopía electrónica en modo transmisión: Imágenes en campo claro y campo oscuro, difracción de electrones de área selecta y microscopía electrónica de alta resolución. Puede trabajar sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. Proporciona imágenes bidimensionales de la textura de la muestra, forma y tamaño de grano y/o de partícula, grado de homogeneidad a escala microscópica, grado de cristalinidad de la muestra, identificación de fases cristalinas, e imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. Proporciona también análisis elemental EDX. El servicio no dispone de certificaciones ni acreditaciones. Dispone de un equipo TEM de 200 kV Jeol2100 Plus dotado de cámara CCD y de un detector EDX SDD X-Max 80T (Oxford Instruments). No dispone de modo STEM. Tiene una resolución de 0.14 nm entre líneas y 0.23 nm entre puntos.