- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subgroup
-
- Transmisión
TEM: EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy)
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
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Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE ICMS - Sevilla |
Service general data
- Support unit: Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Locality: Sevilla (Sevilla)
- Service's web: http://www.lane.icmse.csic.es/
El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF), y con equipamiento anexo de preparación de muestras incluyendo limpieza por plasma, y preparación de superficies y láminas delgadas. Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica. Mas detalles del laboratorio LANE pueden encontrarse en la página web http://www.lane.icmse.csic.es/ (en construcción). Estas infraestructuras ofrecen la caracterización microestructural y química especialmente en las áreas de materiales y físico-química del estado sólido. Es de especial relevancia la alta resolución analítica que permite caracterizar materiales en la nano-escala
TEM: EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy)
Benefit description
TEM: EELS (Electron Energy Loss Spectroscopy) The EELS technique analyzes the energy losses of transmitted electrons due to inelastic interactions with the specimen. Information about the elemental composition and the local electronic structure can be obtained. The TEM is equipped with a Gatan Imaging Filter (GIF Quantum SE) which allows the acquisition of EELS spectra on a 2kx2k CCD detector. The ultimate energy resolution from the FWHM of the elastic peak is 0.65 eV. This equipment allows analysis of selected areas, as well as point, line and spectrum-image analysis with high lateral resolution using the STEM mode. Also an integrated Dark Field annular detector is available. The EELS spectra are recorded over 2048 channels and the energy dispersion (from 0.05 to 1 eV/channel) as well as the GIF entrance aperture (2.5 or 5 mm) can be tuned to optimize the experimental conditions.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 159.96 € | 183.95 € |
Other services
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Microscopía Electrónica de Transmisión de alta Resolución
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Spectrum imaging
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF