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- Microanálisis
X-ray fluorescence microanalysis
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
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CENIM - Madrid |
Service general data
- Support unit: LABORATORIO DE RAYOS X
- Institute: CENTRO NACIONAL DE INVESTIGACIONES METALURGICAS
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.cenim.csic.es/
El laboratorio de Rayos X está dotado de los siguientes equipos: - Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con un sistema analizador por dispersión de longitud de onda de rayos X (WDX) Bruker S8 tiger - Equipo de microfluorescencia de Rayos X Fischerscope XUV con detector de dispersión de energías de rayos X (EDX). - Difractómetro de rayos X Siemens D5000, equipado con un anillo central de Euler abierto - Difractómetro de rayos X de alta precisión Bruker AXS D8 advance, con anillo central de Euler abierto, equipado con un sistema de detector lineal y un puntero láser controlado por vídeo cámara para asegurar la correcta colocación de la muestra y alineado del haz. En el laboratorio se realizan, entre otros, los siguientes ensayos a) Análisis por fluorescencia y microfluorescencia de rayos X (FRD y µFRD) b) Caracterización estructural por difracción de rayos X (XRD). Para una descripción más detallada de los ensayos, vease el apartado "Prestaciones" en el Menu principal.
X-ray fluorescence microanalysis
Benefit description
X-ray microfluorescence analysis allows to determine the elemental composition of small regions, ranging from 100 to 3000 microns. The equipment has a vacuum chamber so it is possible to analyze light elements from Z=11 (Na). It is also provided with a XYZ motorized table and a camera for exact positioning of samples. It is possible to carry out coating thickness measurements.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General | € / muestra | 67.34 € | 73.75 € |
Other services
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
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- XRD (Difracción de Rayos X) : Medida de los parámetros de la celda cristalina
- XRD (Difracción de Rayos X) Láminas delgadas
- Determinación de tensiones residuales