- Áreas de investigación
-
- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
-
- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subgroup
-
- Transmisión
TEM: Spectrum imaging
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
|
Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE ICMS - Sevilla |
Service general data
- Support unit: Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Locality: Sevilla (Sevilla)
- Service's web: http://www.lane.icmse.csic.es/
El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF), y con equipamiento anexo de preparación de muestras incluyendo limpieza por plasma, y preparación de superficies y láminas delgadas. Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica. Mas detalles del laboratorio LANE pueden encontrarse en la página web http://www.lane.icmse.csic.es/ (en construcción). Estas infraestructuras ofrecen la caracterización microestructural y química especialmente en las áreas de materiales y físico-química del estado sólido. Es de especial relevancia la alta resolución analítica que permite caracterizar materiales en la nano-escala
TEM: Spectrum imaging
Benefit description
TEM: Spectrum-Imaging The Spectrum Imaging analysis is performed using the scanning mode (STEM) of the TEM microscope to get data matrices that contain spectral data in addition to spatial information from the Z-contrast images obtained with the annular detector. The microscope Tecnai F30 is equipped with a Gatan Imaging Filter (GIF Quantum SE) which allows the acquisition of electron energy loss spectra (EELS) and with a Silicon Drift Detector X-Max 80T (Oxford Instruments) to analyze the X-ray emission by energy dispersion (EDX). The HAADF, EELS and EDX signals can be recorded simultaneously or independently through the DigiScan software.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| General | euro / hora | 159.96 € | 183.95 € |
Other services
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Microscopía Electrónica de Transmisión : EELS ( Espectroscopia por pérdida de energía)
- Microscopía Electrónica de Transmisión de alta Resolución
- Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF