- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
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- Análisis y Métodos Físicos
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- Difracción de Rayos-X
Small angle X ray scattering (SAXS)
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
|---|---|---|---|
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Laboratorio de difracción de rayos-X ICMS - Sevilla |
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IEM - Madrid |
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CFM - Donostia-San Sebastián |
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Laboratorio de Dispersión de la Luz CFM - Donostia-San Sebastián |
Service general data
- Support unit: Laboratorio de difracción de rayos-X
- Institute: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
- Locality: Sevilla (Sevilla)
- Service's web: http://www.icms.us-csic.es/es/difraccion
La difracción de rayos-X permite: -Identificar cualitativa y cuantitativamente sustancias cristalinas y caracterizar su microestructura y textura. -Abordar el análisis de muestras policristalinas de muy distinta naturaleza, en lo referente a su composición, estabilidad química, cristalinidad, etc. -Seguir las transformaciones de fase “in situ” provocadas por calentamientos en atmósfera inerte (vacio, Ar) o reactiva (H2, O2,...). -Caracterizar materiales en la nanoescala (1-100 nm) mediante el estudio de la dispersión de rayos-X a ángulos bajos (SAXS). -Determinar el grosor, densidad y rugosidad de películas delgadas, mediante Reflectometría de rayos-X. -Obtener la estructura cristalina de materiales inestables a la atmósfera o muy transparente a los rayos-X, mediante el empleo de capilares, etc
Small angle X ray scattering (SAXS)
Benefit description
Characterization of materials at the nanoscale (1-100 nm) through X-ray scattering at low angles, using the SAXS technique. Diffractometer Panalytical X¿Pert Pro (reflectometry, SAXS, grazing incidence and capillary), detector PIXCEL, parabolic mirror incident beam.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| Saxs | € / hora | 24.72 € | 40.03 € |
Service general data
- Support unit: Física Macromolecular
- Institute: INSTITUTO DE ESTRUCTURA DE LA MATERIA
- Locality: Madrid (Madrid)
- Service's web: http://www.biophym.iem.csic.es/index.php/en/
Microscopía electrónica de transmisión (JEOL 2100) equipado con detector EDX (ULTIMAX, Oxford) Microscopio de fuerza atómica (Multimode 8 Bruker y controlador Nanoscope V) Microscopio óptico con luz polarizada (NIKON EclipseE600POL con placa calefactora Metler Toledo FP82HT) Cromatografia SEC-4T (OmniSEC, Malvern) y SLS/ DLS (Zetasizer, Malvern) Calorimetría diferencial de barrido a baja temperatura (DSC8500 Perkin Elmer) Espectroscopia ATR-FTIR (Spectrum One, Perkin Elmer) Medidas de angulo de contacto superficial. Espectroscopia dieléctrica (Novocontrol) Análisis reológico en los modos de torsión y extensión (DHR20, TA Instruments) y capilar (Smart Rheo, CEAST) Microrreologia DLS (Zetasizer Malvern) Microfluidica de cizalla y extensión (m-VROC II, RheoSense) Dispersión de rayos X a bajo ángulo - SAXS (Nanostar C) Asesoramiento en modelos atomísticos, de grano grueso y en la mesoescala en química, biología y materiales
Small angle X ray scattering (SAXS)
Benefit description
Characterization of materials at the nanoscale (1-100 nm) through X-ray scattering at low angles, using the SAXS technique.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| SAXS | € / h | 131.78 € | 144.33 € |
Other services
- Análisis reológico
- Caracterización estructura: Microscopía optica
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Consultoría científica en modelización, computación y simulación
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Calorimetría diferencial de barrido de baja temperatura
- Caracterización dieléctrica
- Cromatografía de exclusión por tamaños, SEC
- Determinación de la viscosidad
- Liofilización
- Determinación de ángulo de contacto en superficie
- Uso de cámara / cabina / campana de atmósferas controladas o modificadas
- Espectroscopia de infrarrojo medio (FTIR)
Service general data
- Support unit: Laboratorio de Rayos-X
- Institute: CENTRO DE FISICA DE MATERIALES
- Locality: Donostia-San Sebastián (Guipúzcoa)
- Service's web: http://cfm.ehu.es/
El laboratorio de "Rayos X" puede proporcionar la caracterización estructural de muestras de polímeros y materia blanda mediante técnicas de Dispersión de Rayos X a bajos ángulos (SAXS) y Dispersión de Rayos X de gran angular (WAXS) (usando dichas técnicas individualmente o simultáneamente). Se dispone del siguiente equipamiento: • SAXS: Rigaku PSAXS-L (120-520K), el cual puede realizar medidas simultáneas de WAXS • WAXS: Bruker AXS D8 ADVANCE (120-520K)
Small angle X ray scattering (SAXS)
Benefit description
The service offers characterization of samples by means of X-RAY DIFFRACTION. Equipment available: SMALL ANGLE X-RAY SCATTERING (SAXS). Rigaku PSAXS-L (120 - 520 K) with simultaneous WASX measurements.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| SAXS | € / muestra | 803.54 € | 994.86 € |
Other services
- No hay prestaciones de servicio asociadas a esta unidad
Service general data
- Support unit: Laboratorio de Dispersión de la Luz
- Institute: CENTRO DE FISICA DE MATERIALES
- Locality: Donostia-San Sebastián (Guipúzcoa)
- Service's web: http://cfm.ehu.es/
El laboratorio de "Dispersión de la Luz" puede proporcionar la caracterización de muestras de polímeros y materia blanda mediante las técnicas de dispersión de luz estática y dinámica (SLS y DLS, respectivamente, por sus siglas en inglés), utilizando un espectrómetro de dispersión de luz (288 - 363K) con tecnología 3D.
Small angle X ray scattering (SAXS)
Benefit description
Characterization of materials at the nanoscale (1-100 nm) by low angle X-ray scattering (SAXS).| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
|---|---|---|---|
| SAXS | € / muestra | 803.54 € | 994.86 € |
Other services
- No hay prestaciones de servicio asociadas a esta unidad