- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Análisis y Métodos Físicos
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- Semiconductores y Electrónica
Caracterización funcional mixta de circuitos (ATE)
| Support unit | Support unit Information | Selected service | Other services |
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SOPORTE TÉCNICO AL DISEÑO Y TEST DE CIRCUITOS INTEGRADOS IMSE-CNM - Sevilla |
Service general data
- Support unit: SOPORTE TÉCNICO AL DISEÑO Y TEST DE CIRCUITOS INTEGRADOS
- Institute: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE SEVILLA
- Locality: Sevilla (Sevilla)
- Service's web: http://www.imse-cnm.csic.es
El área de especialización del Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE) es el diseño y test de circuitos integrados analógicos y de señal mixta en tecnología CMOS, así como su uso en diferentes contextos de aplicación como radiofrecuencia, microsistemas o conversión de datos. Con más de 25 años de experiencia y un consolidado prestigio en Europa, el IMSE ofrece a otros organismos de investigación y empresas la posibilidad de uso de sus instalaciones y equipamiento, así como el know-how de su personal técnico y científico, para el test de dispositivos micro-nanoelectrónicos. Las áreas específicas de aplicación del servicio comprenden la caracterización de prototipos de dispositivos semiconductores y circuitos integrados para aplicaciones de señal mixta, radiofrecuencia, opto-electrónica y espacio, test de producción de pequeñas series, estudios de compatibilidad electromagnética y diseño de placas de test para prototipos de señal mixta de altas prestaciones.
Caracterización funcional mixta de circuitos (ATE)
Benefit description
El IMSE cuenta con un sistema automático de test mixto Agilent 93000 para el test de producción de dispositivos y circuitos integrados. El servicio ofrece el uso de este equipo para el testado de pequeñas series de producción. El sistema cuenta con la siguiente configuración: - 80 canales digitales completamente configurables individualmente. - AWG-WGD (Generador de señales arbitrarias de alta velocidad). Máxima frecuencia de salida (señal sinusoidal) de 125 MHz @ 500 MSPS y 12 bits de resolución - AWG-WGE (Generador de señales arbitrarias de alta resolución). Máxima frecuencia de salida (señal sinusoidal) de 7.5 MHz @ 30 MSPS y 16 bits de resolución - WDA (Digitalizador de alta velocidad). Ancho de banda de 100MHz @ 41 MSPS y 12 bits de resolución - 8 Fuentes de alimentación con tensión/corriente máxima de 8V / 8A por canal La oferta de servicio se complementa con el sistema de forzado de temperatura Thermonix T-2650V que puede ser incorporado al setup de medida para la caracterización de circuitos a diferentes temperaturas en el rango comprendido entre -20 y 200ºC.| Options | Unit | Public Sector | Other customers |
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| Test de circuitos electrónicos con ATE | €/día | 865.66 € | 948.11 € |
Other services
- Caracterización de circuitos y dispositivos RF
- Caracterización optoelectrónica de dispositivos y circuitos
- Diseño de circuitos impresos (PCB)
- Test de eventos simples mediante técnica de láser pulsado
- Estudios de compatibilidad electromagnética (EMC)
- Caracterización de circuitos analógico-digitales de altas prestaciones
- Caracterización eléctrica de dispositivos semiconductores