Bases y Aplicaciones de la difracción de polvo: Análisis cuantitativo, microestructural y método Rietveld (VI Ed.)

El objetivo principal de este curso intensivo es ofrecer una formación especializada en el uso de métodos de análisis avanzados de difracción de rayos X de polvo. Se pretende que el alumno adquiera conocimientos y, fundamentalmente, práctica en métodos de ajuste de perfil sin modelo (Pawley y Le Bail) y con modelo estructural (método Rietveld) dirigidos a aplicaciones de interés científico e industrial. Se hará especial énfasis en el análisis cuantitativo de fases cristalinas, cuantificación de fases amorfas, análisis microestructural (tamaño de cristalito y microdeformaciones) y refinamiento por el método Rietveld.

El curso estará centrado en el manejo del software TOPAS y sus aplicaciones a la resolución de  diferentes problemas de caracterización y análisis mediante difracción de polvo.

Dirección: Duane Choquesillo Lazarte / Cristóbal Verdugo Escamilla