X-ray Inspection

El servicio apoya a cualquier proyecto de investigación del IFIC que tenga necesidades en electrónica. Asímismo, ofrece servicio y desarrollo a empresas externas a través de contratos y convenios. Los experimentos del IFIC desarrollan detectores de partículas que generan una señal electrónica como salida y que debe registrase. El Servicio, a través del personal y el equipamiento, presta a apoyo en diseño electrónico, prototipado, fabricación, test y validación de estos sistemas electrónicos. Parte de los sistemas electrónicos se integran en ASICs. Además, ciertas tecnologías en detectores usan técnicas de microelectrónica, como los detectores de partículas de silicio. El Servicio proporciona apoyo en el test chips y de estructuras de silicio y en la interconexión de sus microcanales. El servicio utiliza dos infraestructuras, el laboratorio de electrónica general (90 m2); y la sala blanca (80 m2 en dos áreas, clases 10.000 y 1.000, ISO7 e ISO6) para el apoyo en microelectrónic

Análisis densitométrico de Rayos X de semillas y otros materiales vegetales A partir de la diferente densidad a los rayos X que presentan las muestras de semillas totalmente maduras, no maduras o muestras con infestación que al final presentan un densidad diferente, viéndose orificios de entrada o salida. Se puede determinar así el porcentaje real de semillas potencialmente viable. Es especialmente útil en semillas pequeñas en las que la separación física de las semillas no viables, no es factible Por otro lado se pueden ver cambios en la densidad de materiales vegetales apreciándose diferencias en los anillos de crecimiento o nudos u otras estructuras de plantas leñosas. Teóricamente se podría usar también en otros materiales ya que es una prueba física.