TEM: Convergent Beam Electron Diffraction

Descripción de la prestación

3) Sistema modular de microscopía de barrido laser confocal Nikon C-1, integrado por las siguientes unidades: -Microscopio invertido Nikon Eclipse TE2000-U. Platina motorizada PROSCAN NIKON TE2000. Campo claro, Nomarski (DIC) y epifluorescencia (lámpara de mercurio, bloques de filtros estandar: azul, verde, ultravioleta). -Objetivo CFI PL APO 4x AN 0,2 WD 15,7 mm -Objetivo CFI PL APO 10x AN 0,45 WD 4,0 mm -Objetivo CFI PL FLUOR 20x AN 0,75 WD 0,35 mm multi-immersión -Objetivo CFI PL FLUOR 40x AN 1,30 WD 0,2 mm oil -Objetivo CFI PL APO 60x AN 1,4 WD 0,21 mm oil -Objetivo CFI PL APO VC 100x AN 1,40 WD 0,13 mm oil -Módulo confocal, no espectral, detección simultánea de cuatro canales (tres láseres mas canal diascópico de transmisión). ¿Pinhole¿ variable motorizado (tres tamaños + abierto). Resolución de escaneo hasta 2048x2048 pixels (12 bits). Motor piezoeléctrico para el eje z. Bancada de láseres (4 láseres + AOTF) Láseres disponibles: -Diodo Azul (36 mW)(405 nm) -Ar (50mW) (457nm, 477nm, 488nm, 514nm) -He-Ne (2mW) (543nm) -Diodo rojo (10mW) (638nm) 4) Sistema de Microscopía Electrónica de Transmisión JEOL JEM-1011, integrado por las siguientes unidades: -JEM-1011 TEM, 100 kV, pieza polar EM-SAP10B, 0.4 nm resolución puntual. Tres modos de aumento. Portamuestras para dos especimenes. Tilting. Disponibilidad para fotomicrografía analogical (película). -Sistema de captura digital de imágenes SIS Megaview III para TEM. Sensor CCD 1360x1024 pixels. Software AnalySIS DOCU para captura de imágenes y análisis.