METALIZADO DE MUESTRAS PARA MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA

Descripción de la prestación

Preparación y recubrimiento conductor de muestras no conductoras o semiconductoras para su óptima visualización y análisis mediante microscopía electrónica de barrido (FESEM) o microanálisis por rayos X (EDX). La prestación incluye dos variantes según el requerimiento del estudio: - Metalización por Sputtering (Oro o Cromo): Orientada a la obtención de imágenes de alta resolución morfológica y topográfica. Evita el efecto de carga eléctrica y mejora la emisión de electrones secundarios. El equipo utilizado es de la marca Quorum, modelo Q150T-ES Plus. - Recubrimiento por Evaporación de Carbono: Especialmente diseñado para muestras destinadas a microanálisis químico elemental (EDX/EDS) o imágenes de electrones retrodispersados (BSE), garantizando una capa conductora ultra fina que no interfiere con las líneas de rayos X. El equipo utilizado es de la marca Quorum, modelo Q150T-ES. Tipos de muestras admitidas: Muestras sólidas en fractura, muestras en polvo y muestras embutidas en resina con preparación y pulido metalográfico.