- Áreas de investigación
-
- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
-
- TIC, Análisis Computacional y Matemático y Cartográfico
- Análisis y Métodos Físicos
- Subagrupación
-
- Informática, Electrónica y Procesado
- Semiconductores y Electrónica
Caracterización de circuitos analógico-digitales de altas prestaciones
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
|
SOPORTE TÉCNICO AL DISEÑO Y TEST DE CIRCUITOS INTEGRADOS IMSE-CNM - Sevilla |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SOPORTE TÉCNICO AL DISEÑO Y TEST DE CIRCUITOS INTEGRADOS
- Instituto: INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE SEVILLA
- Localidad: Sevilla (Sevilla)
- Web del servicio: http://www.imse-cnm.csic.es
El área de especialización del Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE) es el diseño y test de circuitos integrados analógicos y de señal mixta en tecnología CMOS, así como su uso en diferentes contextos de aplicación como radiofrecuencia, microsistemas o conversión de datos. Con más de 25 años de experiencia y un consolidado prestigio en Europa, el IMSE ofrece a otros organismos de investigación y empresas la posibilidad de uso de sus instalaciones y equipamiento, así como el know-how de su personal técnico y científico, para el test de dispositivos micro-nanoelectrónicos. Las áreas específicas de aplicación del servicio comprenden la caracterización de prototipos de dispositivos semiconductores y circuitos integrados para aplicaciones de señal mixta, radiofrecuencia, opto-electrónica y espacio, test de producción de pequeñas series, estudios de compatibilidad electromagnética y diseño de placas de test para prototipos de señal mixta de altas prestaciones.
Caracterización de circuitos analógico-digitales de altas prestaciones
Descripción de la prestación
El Servicio ofrece una amplia carta de capacidades de medida, algunas de las cuales se listan a continuación: - Análisis de señal en el dominio de la frecuencia - Análisis de señal en el dominio del tiempo - Análisis de redes - Medidas de ruido electrónico - Medidas de distorsión armónica - Medidas de impedancia de dispositivos pasivos - Adquisición y generación de patrones lógicos a alta velocidad - Análisis de protocolos estándar de comunicaciones - Análisis de integridad de señales digitales - Adquisición de señales de muy bajo nivel de tensión - Medidas de jitter Para realizar estas medidas se cuenta con una potente gama de equipamiento, entre los que cabe destacar los analizadores lógicos Agilent 16902B y 16823A, generadores de patrones 16720B, analizadores de espectro y redes HP3589A, SR770, HP4395A y HP3585A. Los usuarios pueden disponer también de una variedad importante de osciloscopios, entre los que cabe resaltar el Agilent DSO81304B Infiniium de 40Gmuestras/s y13GHz de ancho de banda y el LeCroy WaveJet334A de 12 bits de resolución vertical.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| Test de circuitos realizados por personal externo | €/día | 448.35 € | 491.05 € |
| Test de circuitos realizado por personal del IMSE | € / dia | 738.64 € | 808.99 € |
Otras prestaciones de servicio
- Caracterización de circuitos y dispositivos RF
- Caracterización funcional mixta de circuitos (ATE)
- Caracterización optoelectrónica de dispositivos y circuitos
- Diseño de circuitos impresos (PCB)
- Test de eventos simples mediante técnica de láser pulsado
- Estudios de compatibilidad electromagnética (EMC)
- Caracterización eléctrica de dispositivos semiconductores