Asesoría en Caracterización Óptica

Descripción del servicio

Se dispone de varias técnicas ópticas de medida en un amplio rango de longitudes de onda desde el ultravioleta hasta el infrarrojo cercano para materiales sólidos, tanto masivos como en lamina delgada, incluyendo sistemas multicapa . Las técnicas disponibles nos permiten realización de medidas de transmisión, reflectancia, y scattering con esfera integradora, así como de elipsometria espectroscópica con ángulo variable. Disponemos de software para el análisis independiente de las medidas o combinando varias de ellas. Nuestros expertos así pueden determinar los valores de las constantes ópticas de los materiales, y propiedades asociadas (por ejemplo en el caso de semiconductores el bandgap), y finalmente para el caso de las laminas delgadas una vez conocidas sus propiedades se puede determinar su espesor con precisión nanométrica. Finalmente estas técnicas combinadas con otras de caracterización estructural y composicional permiten determinar en detalle propiedades composicionales y superficiales, tales como la determinación de formación de capas superficiales de óxido. Finalmente con el software disponible también es posible asistir en el diseño de recubrimientos con respuestas ópticas específicas.