Servicio de Microscopia

La misión de esta unidad es la obtención de micrografías electrónicas, microanálisis de fluorescencia de rayos X por medida de dispersión de energía y la obtención de imágenes topográficas. - Microscopía electrónica de barrido (SEM) de alto y bajo vacio, análisis de fluorescencia de rayos X por dispersión de energías (EDX) acoplado a SEM - Sistema de preparación de muestras para microscopía electrónica (corte, pulido a espejo y recubrimientos metálicos de espesor controlado) Equipamiento: SEM Hitachi 3400N, EDX Röntec XFlash de Si(Li)