Fungible adicional

Servicio centrado en la caracterización de superficies por métodos de microscopía de sonda local (Scanning probe microscopies, SPM) en condiciones ambientales y con posibilidad de atmosfera controlada (N2). Mayoritariamente centrado en el uso de microscopía de fuerzas atomicas (AFM). Capacidad de realizar medidas de topografía tanto en modos dinámicos como contacto y medidas avanzadas con las siguientes técnicas: friction force microscopy (FFM), electrostatic force microscopy (EFM), Kelvin probe force microscopy (KPFM), piezoresponse force microscopy (PFM); conductive forcé miscropy (C-AFM), magnetic force microscopy (MFM), forcé spectroscopy, etc. Capacidad también de realizar medidas de microscopía de efecto túnel (scanning tunneling microscopy, STM) en condiciones ambientales.