- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
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- Transmisión
TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Instituto: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
Descripción de la prestación
La microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM) es una combinación de SEM y TEM: es decir, se obtiene una imagen de transmisión utilizando un método de barrido. Un TEM se puede modificar en un STEM mediante la adición de un sistema que escanea un haz enfocado a través de la muestra para formar la imagen. También se puede disponer de un STEM muy básico instalando un detector de transmisión en un SEM. Al igual que el TEM, el STEM requiere muestras muy delgadas y analiza principalmente los electrones de haz transmitidos por la muestra. Una de sus principales ventajas sobre TEM es que permite el uso de otras señales que no pueden correlacionarse espacialmente en el TEM. En este caso hablamos de la posibilidad de dispone de imagen STEM en un SEM . Sería la forma de STEM más sencilla posible pero nos puede resultar muy útil completar el resto de imágenes SEM como una imagen en transmisión| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| HORAS DE STEM | € / hora | 201.34 € | 220.51 € |
Otras prestaciones de servicio
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Microdifracción de rayos X No destructiva
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM