- Áreas de investigación
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- Ciencia y Tecnologías Físicas, Matemáticas, Robótica y Computación
- Grupo
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- Análisis y Métodos Físicos
- Subagrupación
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- Difracción de Rayos-X
Microdifracción de rayos X No destructiva
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
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SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS MNCN - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE TÉCNICAS NO DESTRUCTIVAS
- Instituto: MUSEO NACIONAL DE CIENCIAS NATURALES
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.mncn.csic.es/
El Servicio de Análisis por Técnicas No destructivas del MNCN-CSIC de Madrid presta su asistencia a aquellos departamentos y/o grupos de Investigación del MNCN así como a otros organismos o entidades públicas o privadas, que así lo soliciten. El Servicio cuenta con un Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental (QUANTA 200, con opción de Alto y Bajo Vacío y modo Ambiental) con EDS y WDS y Peltier de enfriamiento y calentamiento; un Microscopio Electrónico de Barrido de Bajo y Alto Vacío (Inspect) con EDS y Catodoluminiscencia espectral y de imagen en UV-IR; Microscopio Confocal con espectroscopia RAMAN con pletina de enfriamiento, un Microscopio Confocal Espectral de fluorescencia, Tomografía Computerizada de Rayos X (CT-scan), un Microscopio 3D de alta resolución y equipos de apoyo como el de de análisis térmico ATD/ TGA (Perkin Elmer) y un analizador de la distribución del tamaño de partícula por difracción láser (Beckman- Coulter), Secado por punto Crítico y metelizadores de Au
Microdifracción de rayos X No destructiva
Descripción de la prestación
La difracción de rayos X es una de las técnicas más eficaces para el estudio de cualquier material cristalino, ya sea inorgánico u orgánico, natural o sintético. Permite la caracterización microestructural de las fases cristalinas presentes en una muestra. El Servicio de Técnicas No Destructivas del Museo Nacional de Ciencias Naturales dispone de un equipo de difracción de Rayos X D8-Discover de Bruker, con fuente de ánodo de Cu. Presta servicio tanto a nivel interno como externo. Al tratarse de un equipo de microdifracción permite analizar pequeñas zonas de la muestra sin tratamiento previo, posee colimadores de entre 2mm y 50¿m. La localización de la zona de interés se realiza con ayuda de un microscopio y de un puntero láser para optimización de la altura. De esta forma se puede llevar a cabo análisis cualitativos de forma no destructiva preservando la integridad de muestras valiosas, como gemas, muestras tipo o paleontológicas . Asimismo permite la realización de mapping y linescan.| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| MICRODIFRACCIÓN RX NO DESTRUCTIVA | hora | 149.89 € | 164.17 € |
| MICRODIFRACCIÓN RX NO DESTRUCTIVA con horno | € / hora | 171.21 € | 187.52 € |
Otras prestaciones de servicio
- Analisis por microscopía confocal
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Asesoramiento y elaboración de informes analíticos
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- Desarrollo de software científico
- Espectroscopía micro-Raman
- Metalización (Sputtering)
- Scanning electron microscopy (SEM): Cryo SEM
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía electrónica de barrido (SEM) : Microscopio ambiental
- TEM: STEM (Scanning Transmission Microscopy)
- Ciclos térmicos complejos con control riguroso de temperaturas , tiempos y velocidades de calentamiento y enfriamiento
- Tomografía computerizada CT-Scan X-ray
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Suministro de reactivos generales y soportes para microscopía
- Microscopía Óptica confocal 3D alta resolución-perfilometría-interferometría
- Secado por punto crítico (Critical Point Dryer)
- Criomicroscopía Correlativa
- Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM