Microscopia electrónica de barrido (SEM) : Emisión de Campo - FEGSEM

Descripción del servicio

El microscopio electrónico de barrido de emisión de campo permite la obtención de imágenes de alta resolución, con elevada profundidad de campo. Todas las señales que se originan en la muestra cuando incide un haz electrónico (electrones secundarios, electrones retrodispersados, rayos X, etc.) pueden ser utilizadas para obtener información sobre la naturaleza de la muestra. Por ello es muy útil para la realización de estudios morfológicos, topográficos y de composición. En el Servicio de Microscopía Electrónica del ICM tenemos gran experiencia en el estudio de microorganismos marinos, incluyendo la preparación de dichas muestras. Así mismo, se realizan estudios de estructuras y tejidos de organismos, tanto marinos como terrestres, incluyendo muestras botánicas, sedimentos y distintos tipos de materiales. Las características del Hitachi SU8600, un FE-SEM con 0,6 nm de resolución, permite el estudio de muestras a muy bajas energías, llegando a ser posible la observación de determinadas muestras sin metalizar. Está equipado con detectores de electrones secundarios y retrodispersados, en la columna y en la cámara, y permite la visualización de todas la señales simultáneamente. Asimismo se pueden realizar análisis químicos de las muestras identificando la señal de rayos X procedente de la superficie de las mismas. El equipo dispone de dos detectores de dispersión de energías de rayos X (EDS Bruker XFlash 7) de 123 eV de resolución, permitiendo realizar un análisis cualitativo y cuantitativo de los elementos químicos presentes en las muestras.