Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF | Consejo Superior de Investigaciones Científicas

Información relativa a las unidades que ofrecen la prestación seleccionada
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Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE ICMS - Sevilla

Datos del servicio

Unidad de servicio: Laboratorio de Nanoscopías y Espectroscopías LANE
Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE SEVILLA
Localidad: Sevilla (Sevilla)
Web del servicio: http://www.lane.icmse.csic.es/

Descripción del servicio

El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF), y con equipamiento anexo de preparación de muestras incluyendo limpieza por plasma, y preparación de superficies y láminas delgadas. Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica. Mas detalles del laboratorio LANE pueden encontrarse en la página web http://www.lane.icmse.csic.es/ (en construcción). Estas infraestructuras ofrecen la caracterización microestructural y química especialmente en las áreas de materiales y físico-química del estado sólido. Es de especial relevancia la alta resolución analítica que permite caracterizar materiales en la nano-escala

Descripción de la prestación

TEM: STEM/ADF-HAADF Las imágenes de campo oscuro anular (ADF) se obtienen usando el microscopio TEM en modo barrido (STEM). Una pequeña sonda de electrones se focaliza y se barre sobre la muestra y los electrones dispersados elásticamente se detectan sobre un detector anular para cada posición de la sonda y producir así las imágenes ADF. Los ángulos de colección del detector se pueden ajustar cambiando la longitud de cámara. Con altos ángulos de colección (HAADF), únicamente los electrones dispersados incoherentemente llegan al detector y la intensidad en las imágenes es sensible a las variaciones de número atómico de los átomos de la muestra (contraste químico en Z). El detector HAADF disponible es el Modelo 3000 de Fischione. La zonas de análisis, los aumentos así como el tamaño de sonda se puede ajustar. La resolución espacial en condiciones de alta resolución es de 0.16 nm en el microscopio Tecnai F30 disponible.

Cuadro de opciones y precios
Opciones	Unidad	Sector Público	Otros Clientes
Microscopia electonica de transmision: Modeo STEM/ADF-HAADF	euro / hora	159.96 €	183.95 €