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- Ciencia y Tecnología de Materiales
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- Análisis y Métodos Físicos
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-
- Difracción de Rayos-X
Determinación de tensiones residuales
| Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
|---|---|---|---|
|
CENIM - Madrid |
Datos Generales del Servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE RAYOS X
- Instituto: CENTRO NACIONAL DE INVESTIGACIONES METALURGICAS
- Localidad: Madrid (Madrid)
- Web del servicio: http://www.cenim.csic.es/
El laboratorio de Rayos X está dotado de los siguientes equipos: - Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con un sistema analizador por dispersión de longitud de onda de rayos X (WDX) Bruker S8 tiger - Equipo de microfluorescencia de Rayos X Fischerscope XUV con detector de dispersión de energías de rayos X (EDX). - Difractómetro de rayos X Siemens D5000, equipado con un anillo central de Euler abierto - Difractómetro de rayos X de alta precisión Bruker AXS D8 advance, con anillo central de Euler abierto, equipado con un sistema de detector lineal y un puntero láser controlado por vídeo cámara para asegurar la correcta colocación de la muestra y alineado del haz. En el laboratorio se realizan, entre otros, los siguientes ensayos a) Análisis por fluorescencia y microfluorescencia de rayos X (FRD y µFRD) b) Caracterización estructural por difracción de rayos X (XRD). Para una descripción más detallada de los ensayos, vease el apartado "Prestaciones" en el Menu principal.
Determinación de tensiones residuales
Descripción de la prestación
La difracción de rayos X permite determinar el valor de las tensiones residuales y estructurales de un material a partir de medidas precisas del parámetro de red asumiendo que cualquier desviación del valor de equilibrio se debe a una distorsión linear elástica de la red cristalina. Las tensiones residuales son tensiones internas que permanecen en el material después que la causa que las originó desaparece, por lo que están relacionadas con deformaciones elásticas. Las principales causas que dan lugar a la aparición de tensiones residuales en un material son: a)Deformación plástica heterogénea de un material durante el procesado (mecanizado extrusión, laminación) o asociada a la presencia de distintas fases. b)Incompatibilidad térmica entre las fases que forman un material. c)Transiciones de fase. d)Templado de materiales. e)Nitruración o carburización de superficies| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros Clientes |
|---|---|---|---|
| General | € / muestra | 147.15 € | 161.16 € |
Otras prestaciones de servicio
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) agregados orientados
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) análisis de cristalinidad
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cualitativo
- Caracterización estructural: XRD (Difracción de Rayos X) en polvo cuantitativo
- XRD (Difracción de Rayos X) : Medida de los parámetros de la celda cristalina
- XRD (Difracción de Rayos X) Láminas delgadas
- Análisis por microfluorescencia de rayos X