FABRICACIÓN DE PUNTAS PARA MICROSCOPÍA DE SONDA DE BARRIDO CON RESOLUCIÓN MEJORADA

El CSIC ha desarrollado puntas para microscopía de sonda de barrido (SPM, del inglés scanning probe microscopy) que contienen una nanopartícula aislada en su ápex. El método para producir estas puntas permite modular la forma, tamaño y composición de la nanopartícula mejorando así la capacidad de medición. Estas puntas se usan en aquellas técnicas que combinan imagen, tal como SPM, y espectroscopia, tales como la espectroscopia Raman potenciada en punta (TERS, del inglés tip-enhanced Raman spectroscopy). 

Se buscan empresas fabricantes de equipos de laboratorio interesadas en la licencia de la patente.