Instituto
INSTITUTO DE MICROELECTRONICA DE BARCELONA

DISPOSITIVO Y METODO PARA LA DETERMINACION DE CARACTERISTICAS ELECTRICAS DE NANOCONTACTOS ENTRE UNA NANOESTRUCTURA LONGITUDINAL Y UNA PISTA DE METAL PARA SU CONEXIONADO


Investigadores

LUIS ANTONIO FONSECA CHACHARO
ISABEL GRACIA TORTADES
EDUARDO FIGUERAS COSTA
CARLES CANE BALLART
JOAQUIN SANTANDER VALLEJO
MARIA NEUS SABATE VIZCARRA