Métodos e Instrumentación para Microscopía de Fuerzas Atómica (AFM-Mi)


El origen de esta línea emerge con el propósito de encontrar respuestas a la necesidad, cada vez mayor, de explorar nuevos métodos que operen en la nanoescala, y en particular, que puedan realizar análisis de las interacciones moleculares y caracterización de las cargas electricas en superficie . Por ello, nuestra actividad científica está enfocada en el diseño y desarrollo de nuevas técnicas e instrumentación basadas en ideas originales y dirigidas hacia la investigación científica fundamental y tecnológica en el campo de las técnicas de sonda local. En particular, buscamos poder caracterizar nanomateriales mediante técnicas relacionadas con el AFM (Microscopía de Fuerzas) para la biomedicina y la nanotecnología.
Nuestros resultados están publicados en revistas internacionales de alto índice de impacto (IP Small=7,823, IP Langmuir= 4,187, IP Soft Matter= 3,909, Nanotechnology=3,823,...). 84% de nuestros artículos están publicados en revistas posicionadas dentro del primer cuartil: Q1

Especialización principal

Área científica:
Disciplina ERC:
  • PE - DOMAIN PHYSICAL SCIENCE AND ENGINEERING
  • PE3 Condensed Matter Physics
Industrial Leadership:
  • 2. Nanotechnologies
  • 2.5. Developing capacity-enhancing techniques, measuring methods and equipment
Societal Challenges:
  • 7. Other
  • 7.1. Other