Localidad
Cerdanyola del Vallès (Barcelona)

MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS

INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE BARCELONA

Servicio de Microscopia de Fuerzas Atómicas (AFM). Realización de imágenes de topografía, tanto en modo contacto como en dinámico, incluyendo imágenes específicas para contraste de fase, AFM bimodal, así como Microscopia de Fuerzas Laterales. La máxima precisión factible es de 0.02 nm, y la área máxima de scan 90x90x15 um3 en X/Y/Z. Caracterización mediante modos avanzados de AFM: (i) AFM de conducción, en donde se utiliza el módulo Resiscope V2 para medir corriente desde los pA hasta mA, aplicando hasta ±10V. (ii) Análisis mediante Microscopia de Piezorespuesta (PFM), incluyendo alta frecuencia y voltaje (hasta 3 MHz y 70 Vpp). (iii) Microscopia de Fuerzas Kelvin (KFM), en modo de pasada única, utilizando dos modos de resonancia, el primero es topográfico, mientras que el segundo obtiene la señal eléctrica. (iv) Microscopia de Fuerzas Eléctricas (EFM) y (v) Magnéticas (MFM). (vi) También se pueden realizar experimentos de nanolitografía SPM (electroquímica y por rayado).

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