Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS)

Equipo de SPECS (Alemania) provisto de un analizador PHOIBOS 100, y fuente monocromática Al (1486.69 eV) y fuente no monocromática dual de Al (1486.69 eV) y Mg (1253.6 eV), pistola de electrones de compensación de carga y pistola iónica (Ar). Software Speccs Lab 2 adquisición de datos y CASA XPS para tratamiento de datos. Precámara con seis portamuestras y cuatro en la cámara. Tamaño máximo de muestra aproximado de 12 mm x 12 mm x 5 mm. Análisis superficial de muestras , composición superficial atómica de todos los elementos, estados de oxidación de los mismos a excepción de hidrógeno y helio. Los análisis se llevan a cabo en condiciones de vacío muy extremas. Por tanto, las muestras deben ser SÓLIDAS y no contener aceites u otro tipo de sustancia que se evaporen a ultra-alto vacío o se descompongan durante el proceso de irradiación. Asimismo, las muestras deben estar SECAS y no deben desprender ningún tipo de gas o vapor que pudiera contaminar el equipo.