Difracción de Rayos X

La Difracción de Rayos X es una técnica muy útil para la caracterización estructural de materiales que presenten cierto grado de cristalinidad. Se basa en la ley de Bragg. Gracias al fenómeno de la difracción es posible la resolución de estructuras de productos naturales, la identificación cualitativa y cuantitativa de los compuestos presentes en una muestra sólida y la identificación de formas alotrópicas. Es una técnica no destructiva. Se dispone de dos difractómetros, el DRX Bruker D8 Advance y el DRX Siemens D5000.