Localidad
Madrid (Madrid)

Caracterización Morfológica de superficies por microscopía de fuerza atómica

INSTITUTO DE TECNOLOGIAS FISICAS Y DE LA INFORMACION LEONARDO TORRES QUEVEDO

Realización del estudio de la morfología superficial de muestras mediante un microscopio de fuerza atómica (AFM). Se proporcionan los parametros que caracterizan a la superficie como rugosidad (rms), desviaciones máximas etc. También se proporcionan imágenes 2D y 3D de las partes estudiadas de las muestras.

Prestaciones de servicio ofertadas por la unidad

  • No hay prestaciones de servicio asociadas a esta unidad

Contactar con la unidad