Caracterización Morfológica de superficies por microscopía de fuerza atómica

Realización del estudio de la morfología superficial de muestras mediante un microscopio de fuerza atómica (AFM). Se proporcionan los parametros que caracterizan a la superficie como rugosidad (rms), desviaciones máximas etc. También se proporcionan imágenes 2D y 3D de las partes estudiadas de las muestras.