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- Microscopía, Microanálisis e Imagen
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- Fuerza Atómica / Efecto Tunel
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica conductiva C-AFM
Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
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MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS ICMAB - Cerdanyola del Vallès |
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LABORATORIO DE CARACTERIZACIÓN DE SUPERFICIES CENIM - Madrid |
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Datos Generales del Servicio
Datos del servicio
- Unidad de servicio: MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
Descripción del servicio
Servicio de Microscopia de Fuerzas Atómicas (AFM). Realización de imágenes de topografía, tanto en modo contacto como en dinámico, incluyendo imágenes específicas para contraste de fase, AFM bimodal, así como Microscopia de Fuerzas Laterales. La máxima precisión factible es de 0.02 nm, y la área máxima de scan 90x90x15 um3 en X/Y/Z. Caracterización mediante modos avanzados de AFM: (i) AFM de conducción, en donde se utiliza el módulo Resiscope V2 para medir corriente desde los pA hasta mA, aplicando hasta ±10V. (ii) Análisis mediante Microscopia de Piezorespuesta (PFM), incluyendo alta frecuencia y voltaje (hasta 3 MHz y 70 Vpp). (iii) Microscopia de Fuerzas Kelvin (KFM), en modo de pasada única, utilizando dos modos de resonancia, el primero es topográfico, mientras que el segundo obtiene la señal eléctrica. (iv) Microscopia de Fuerzas Eléctricas (EFM) y (v) Magnéticas (MFM). (vi) También se pueden realizar experimentos de nanolitografía SPM (electroquímica y por rayado).
Contacto
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica conductiva C-AFM
Descripción del servicio
Para la medición de corriente se utiliza el módulo Resiscope V2, capaz de medir corriente desde los pA hasta los mA, ya que consta de un amplificador logarítmico con un rango dinámico de funcionamiento. El equipo aplica una tensión de -10V a 10 Voltios en la muestra, mientras que la punta permanece a tierra. El módulo es capaz de limitar la corriente de trabajo, si la muestra así lo requiriera. Para limitar la corriente, el equipo introduce resistencia en serie de forma automática, para limitar la cantidad de corriente que circula por el circuito.
También es posible la realización de espectroscopias, leyendo como canales la deflexión, la topografía, corriente o resistencia del material y haciendo variar los parámetros de fuerza y voltaje. Es posible realizar una combinación de estas espectroscopias para visualizar la variación de distintas entradas simultáneamente. Las espectroscopias se pueden utilizar en ¿ciclos¿ para poder estudiar efectos de histéresis en la muestra.
El servicio dispone de una gran variedad de puntas de conductividad, desde diamante dopado, recubrimiento de platino o puntas de platino macizas. Es posible realizar los ensayos en humedad relativa baja, menor al 3% y en gas nitrógeno. El máximo tamaño de imagen realizable es de 90 x 90 micras, con una resolución máxima de 8192 x 8192 puntos.
El servicio también puede realizar el modo Microscopia de Fuerza de Fotocorriente en el que se utiliza un accesorio externo para iluminar la muestra a la vez que se mide su conductividad. La iluminación de la muestra se realiza mediante un LED RGB de 5 mm, que emite 1.2 mW de potencia lumínica en las siguientes longitudes de onda: Rojo - 625-630 nm, Verde - 517-520 nm y Azul - 465-470 nm.
Para la realización de imágenes en conductividad, se utiliza el siguiente equipo:
Agilent 5500LS, escáner de 90x90 micras en X/Y y de 15 micras en el eje Z equipado con el accesorio Resiscope V2. Dispone de un dispositivo ¿Closed Loop¿ que mejora notablemente el posicionamiento en X e Y. Además cuenta con una estación motorizada, con precisión de ~3 micras, y un rango de ~15 cm en X/Y y 3 cm en Z, por lo que las muestras pueden tener un tamaño de hasta 25 x 25 cm2 y 3 cm de grosor. Está implementado un dispositivo para medir humedad y temperatura, y de un módulo calefactor de muestras. El ruido eléctrico del equipo es del orden de 0.05 nm. El equipo dispone de un accesorio para iluminar muestras desde la parte inferior, compatible con el modo de conductividad.
Opciones | Unidad | Sector público | Otros clientes |
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Agilent 5500 | € / hora | 60.12 € | 90.05 € |
Contacto
Otras prestaciones de servicio
- No hay prestaciones de servicio asociadas a esta unidad
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Datos Generales del Servicio
Datos del servicio
- Unidad de servicio: LABORATORIO DE CARACTERIZACIÓN DE SUPERFICIES
- Instituto: CENTRO NACIONAL DE INVESTIGACIONES METALURGICAS
- Localidad: Madrid (Madrid)
Descripción del servicio
El Laboratorio posee dos técnicas de análisis de superficies: -Espectroscopía Fotoelectrónica de rayos X (XPS), VG Microtech, modelo MT 500, (Fisons Instruments), con una fuente de Rayos X dual (Mg/Al), detector CMA de tres channeltron y cañón de iones EX05 para el bombardeo por iones Ar -Microscopía de fuerza atómica (AFM), marca Agilent modelo 5100. Se trata de un laboratorio con Sistema de Gestión de Calidad (ISO 9001:2008) con certificado nº SGI 6016951. El análisis por XPS proporciona información sobre la composición elemental y el estado químico de cada elemento. En combinación con el bombardeo con iones Argón (A.I.B.) se pueden obtener perfiles de composición hasta un máximo de 100nm. El análisis por AFM permite obtener una medida de la topografía y rugosidad de muestras sólidas tanto en aire como en líquidos. Dependiendo de la punta es posible obtener información sobre otras propiedades superficiales (medida de diferencias de potencial (SKP), conductividad, etc.
Contacto
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica conductiva C-AFM
Descripción del servicio
Opciones | Unidad | Sector público | Otros clientes |
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General | € / sesión | 123.03 € | 134.75 € |
General con informe | € / sesión | 146.12 € | 160.04 € |
Contacto
Otras prestaciones de servicio
- Spectroscopy: X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
- No hay prestaciones de servicio asociadas a esta unidad
- Microscopía de barrido: Tapping AFM
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy)