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- Ciencia y Tecnología de Materiales
- Grupo
- Microscopía, Microanálisis e Imagen
- Subagrupación
- Fuerza Atómica / Efecto Tunel
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Unidad de servicio | Información de la unidad de servicio | Prestación seleccionada | Otras prestaciones de servicio |
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SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN DE SUPERFICIES Y RECUBRIMIENTOS CEQMA - Zaragoza |
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Microscopía de campo cercano: fuerza atómica y efecto túnel ICP - Madrid |
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Laboratorio de Microscopía AFM IQFR - Madrid |
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SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA ICTP - Madrid |
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UNIDAD DE ENSAYOS FÍSICO-QUÍMICOS IETCC - Madrid |
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Laboratorio de Microscopía Electrónica de Barrido y AFM ICV - Madrid |
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ICMM - Madrid |
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MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS ICMAB - Cerdanyola del Vallès |
Datos Generales del Servicio
Datos del servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN DE SUPERFICIES Y RECUBRIMIENTOS
- Instituto: CENTRO DE QUIMICA Y MATERIALES DE ARAGON
- Localidad: Zaragoza (Zaragoza)
Descripción del servicio
El servicio de Caracterización de Superficies y Recubrimientos consta de tres equipos: un microscopio confocal e interferómetro, un nanoindentador y un microscopio de sonda local. Mediante estas técnicas se pueden realizar análisis superficiales de topografía, en un rango que va desde los milímetros a los nanómetros; así como estudios superficiales de dureza y otras propiedades eléctricas, magnéticas y ópticas.
Contacto
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Descripción del servicio
Este tipo de microscopía permite la visualización de superficies a escala nanométrica mediante la utilización de una sonda que escanea físicamente la muestra.
La microscopía de sonda de barrido se subdivide a su vez en numerosas técnicas, entre las que destacan:
Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Microscopía de Efecto Túnel (STM)
Microscopía Óptica de Campo Cercano (SNOM)
Aplicaciones:
1. Topografía
Obtención de imágenes en tres dimensiones con resolución nanométrica: perfilometría, datos de Rugosidad en 2D y 3D, estudios estadísticos de los granos de la superficie,...
2. Fase
Permite detectar variaciones en la composición, adhesión, fricción y viscoelasticidad, entre otras características de la superficie de la muestra.
3. Propiedades eléctricas
Medidas cualitativas (SRI, Spreading Resistance Imaging) Detecta diferencias de resistividad y conductividad eléctrica en la superficie de la muestra de forma cualitativa a escala nanométrica.
Medidas cuantitativas (KPM, Kelvin Probe Microscopy) Estudio de la distribución de los potenciales eléctricos en la superficie de la muestra.
4. Nanolitografía
Permite producir cambios de las propiedades de la superficie de la muestra. Dichas modificaciones pueden ser de varios tipos: en la topografía de la muestra, en las propiedades físicas de la misma sin alterar su topografía.
5. Microscopía de efecto túnel (STM, Scanning Tunneling Microscopy).
La microscopía de efecto túnel permite el estudio de diferentes propiedades superficiales (topografía, función de trabajo, densidad local de estados) de materiales conductores a escala atómica. La corriente túnel detectada es lo suficientemente pequeña (0.5pA-50nA) como para investigar muestras de baja conductancia.
6. Microscopía óptica de campo cercano (SNOM, Scanning Near field Optical Microscopy).
Esta técnica permite el estudio de la topografía y las propiedades ópticas a escala nanométrica de muestras opacas.
El equipo tiene 4 láseres de distintas longitudes de onda (473nm, 532nm, 635nm y 785nm).
El equipo está localizado en el departamento de Física de la Materia Condensada en la Facultad de Ciencias (Campus San Francisco).
Cuadro de opciones y precios
Opciones | Unidad | Sector público | Otros clientes |
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Usuario | hora | 7.52 € | 8.23 € |
General sin punta | hora | 58.07 € | 63.6 € |
General | euro / hora | 67.97 € | 80.33 € |
Contacto
Otras prestaciones de servicio
Datos Generales del Servicio
Datos del servicio
- Unidad de servicio: Microscopía de campo cercano: fuerza atómica y efecto túnel
- Instituto: INSTITUTO DE CATALISIS Y PETROLEOQUIMICA
- Localidad: Madrid (Madrid)
Descripción del servicio
Objetivo Dar apoyo a la investigación científica tanto interna (del ICP) como externa (de otros centros del CSIC, OPIs, universidades y empresas) mediante las técnicas de Microscopías de Fuerzas Atómicas (AFM) y de Efecto Túnel (STM). Equipo y accesorios Se dispone del equipo “Agilent 5500 Scanning Probe Microscope” de alta resolución, ubicado en el interior de una cámara, sobre la que está colgado, para el aislamiento de vibraciones, que permite adquirir / registrar imágenes mediante técnicas en modo contacto o acústico (técnicas AFM o ACAFM) o mediante efecto túnel (STM). Es un equipo muy versátil pues dispone de los accesorios necesarios para: • Análisis de superficies al aire o sumergidas en medio líquido. • Control de temperatura • Control de la atmósfera de medida • Medidas electroquímicas combinadas tanto con los modos AFM como STM Asimismo, se dispone del software “PicoImage”, compatible con el software de adquisición
Contacto
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Descripción del servicio
Como paso previo a cualquier solicitud de los servicios de AFM-STM ofertados en el ICP es en cualquier caso altamente recomendable leer con atención la Guía de Servicio (Guía de servicio_AFM-STM.pdf), e imprescindible si se solicitan los servicios por primera vez o no se está familiarizado con la técnica y/o el equipo.
Asimismo, antes de tramitar cualquier solicitud, se recomienda el contacto con los responsables científico (Marisela Vélez: marisela.velez@icp.csic.es, Tel. 915854802) y/o técnico (Manuel Sánchez: manuel.sanchez@icp.csic.es, Tel. 915854795).
No se permite que los solicitantes (externos o internos) manejen el equipo. El responsable técnico o, en su ausencia, el responsable científico estará presente en todo el proceso de medida o análisis.
Solicitudes
Una vez leída la Guía de Servicio y contactado con los responsables, es necesario descargar la solicitud (Solicitud_AFM-STM.doc) y enviarla debidamente cumplimentada a la dirección de correo (manuel.sanchez@icp.csic.es). El técnico se pondrá en contacto con el solicitante para fijar día y hora de análisis y resolver cualquier tipo de duda que pueda surgir.
Tipos de servicio
Las medidas experimentales ofrecidas se pueden clasificar en dos grandes tipos:
1. Convencionales: Medidas tanto por técnicas AFM o STM tanto de muestras sólidas como líquidas, sin control de atmósfera ni de temperatura.
2. Avanzadas. Se englobarían todo tipo de experimentos que requieran el uso de medidas bajo atmósfera controlada, a temperaturas diferentes a la ambiente y/o con la celda electroquímica.
Como servicios adicionales, se ofrece el tratamiento de imágenes y el apoyo en la interpretación de resultados.
El servicio de microscopía dispone de un laboratorio de preparación de muestras básico con ultrasonidos, micropipetas, disolventes convencionales (etanol, acetona, etc.) y soportes exfoliables de carácter hidrófobo (grafito), hidrófilo (mica) y conductores (grafito y oro).
Cuadro de opciones y precios
Opciones | Unidad | Sector público | Otros clientes |
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Atomic Force Microscopy (temperatura variable) | €/ hora | 101.51 € | 111.18 € |
Atomic Force Microscopy ( en líquido) | hora | 100.88 € | 110.49 € |
Scanning Probe Microscopy ( AFM and STM) | €/ hora | 87.21 € | 95.52 € |
Atomic Force Microscopy ( celda electroquimica) | hora | 196.18 € | 214.87 € |
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Otras prestaciones de servicio
Datos Generales del Servicio
Datos del servicio
- Unidad de servicio: Laboratorio de Microscopía AFM
- Instituto: INSTITUTO DE QUIMICA FISICA ROCASOLANO
- Localidad: Madrid (Madrid)
Descripción del servicio
El Instituto de Química Física Rocasolano dispone de un Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de Agilent, modelo 5100. Esta técnica permite el estudio de superficies tanto conductoras como aislantes y presenta una serie de ventajas en relación a otras técnicas microscópicas tales como su alta resolución en las tres dimensiones, la escasa preparación de muestra necesaria, y que no es destructiva. En AFM una punta afilada situada en el extremo de una palanca flexible barre la superficie de la muestra registrándose las fuerzas de la interacción que hay entre la punta y la muestra cuando se encuentran muy próximas. Una vez capturadas las imágenes se pueden tratar para obtener información acerca del tamaño, profundidad, espesor, rugosidad, y también pueden detectarse diferencias en propiedades tales como adhesión y viscoleasticidad en el caso de medidas en modo de contacto intermitente.
Contacto
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Descripción del servicio
En cualquier caso para cada muestra específica será necesario contactar con el personal del servicio para determinar la mejor manera de preparar la muestra para que sea válida para las medidas.
Cuadro de opciones y precios
Opciones | Unidad | Sector público | Otros clientes |
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AFM (euros/hora) | hora | 77.39 € | 84.76 € |
Contacto
Datos Generales del Servicio
Datos del servicio
- Unidad de servicio: SERVICIO DE CARACTERIZACIÓN Y ASISTENCIA CIENTÍFICO-TÉCNICA
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA Y TECNOLOGIA DE POLIMEROS
- Localidad: Madrid (Madrid)
Descripción del servicio
El Servicio de Caracterización y Asistencia Científico-Técnica fue reestructurado en 2009. Supone una herramienta fundamental para el apoyo de la investigación de los diferentes grupos y departamentos del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros, centralizando el equipamiento más sofisticado a cuyo cargo se encuentran técnicos especializados. El propósito es el análisis y caracterización de materiales poliméricos para obtener información completa sobre su composición, morfología, estructura, propiedades, etc. Asimismo, el de proporcionar asistencia y apoyo cientifico-técnico a empresas y otros centro de investigación. El servicio está organizado en varias unidades (ver condiciones del servicio)
Contacto
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Descripción del servicio
Es necesario que las muestras estén limpias y sean muy planas, con desniveles inferiores a 1 micra.
No se pueden medir muestras en polvo.
Dimensiones de la muestra:
- Diámetro máximo de la muestra o soporte: 15mm
- Espesor: hasta 4 mm
Cuadro de opciones y precios
Opciones | Unidad | Sector público | Otros clientes |
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AFM | € / sesión | 229.51 € | 251.37 € |
Contacto
Otras prestaciones de servicio
- Espectrometría de masas acoplada a DSC/ATD/TG para análisis de gases efluentes
- Espectroscopía: ATR-FTIR (Attenuated Total Reflection - IRTF)
- Caracterización molecular: UV
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Tratamiento muestra: Prensado
- Resonancia Magnética Nuclear de Sólidos
- Calorimetría diferencial de barrido (DSC)
- Caracterización estructural: XRD análisis de cristalinidad
- Espectroscopía micro-Raman
- Resistencia a la tracción/compresión
- Microscopía Electrónica de barrido de alta resolución
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Tratamiento muestra: Corte
- Análisis térmico diferencial y termogravimétrico (ATD, TG)
- Caracterización molecular: fluorescencia
- Caracterización dieléctrica
- Análisis de propiedades mecanodinámicas de materiales
- Elaboración de informes técnicos (peritajes, tasaciones)
- Microscopía electrónica de barrido: Microscopio ambiental
- Extrusión de materiales
- Cromatografía de exclusión por tamaños, SEC
- Mass spectrometry coupled with DSC/ATD/TG for analysis of effluent gases
- Spectroscopy: ATR-FTIR (Attenuated Total Reflection - FTIR)
- Molecular Characterization: UV Spectroscopy
- Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
- Sample treatment: Pressing
- Nuclear magnetic resonance spectroscopy of solids
- Diferential scanning calorimetry (DSC)
- Structural Characterization: Cristallinity analysis by XRD
- Micro-Raman spectroscopy
- Tensile/ compression strength
- Scanning electron microscopy (SEM): High resolution SEM
- Scanning probe microscopy: AFM (Atomic Force Microscopy)
- Differential Thermal Analysis and Thermogravimetry (DTA, TG)
- Molecular characterization: Fluorescence analysis
- Dielectric characterization
- Dynamic Mechanical Analysis of materials
- Technical repports (Arbitrations, assesment)
- Scanning electron microscopy (SEM): Environmental SEM
- Extrusion of materials
- Size-exclusion chromatography
Datos Generales del Servicio
Datos del servicio
- Unidad de servicio: UNIDAD DE ENSAYOS FÍSICO-QUÍMICOS
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIAS DE LA CONSTRUCCION EDUARDO TORROJA
- Localidad: Madrid (Madrid)
Descripción del servicio
La Unidad de Ensayos gestiona una serie de técnicas instrumentales y de caracterización fisico-quimicas para el ensayo y análisis de materiales de construcción. Tanto de los constituyentes como de los productos. Principalmente se analizan materiales en base cemento, como morteros y hormigones, y los constituyentes de estos.Cada una de las técnicas son de carácter general y se aplican a diferentes lineas de investigación. Es necesaria la utilización de diferentes técnicas para el análisis de los materiales, ya que su estudio incluye su fabricación, caracterización, durabilidad y vida en servicio; así como el análisis de su potencial deterioro debido a su interacción con el medioambiente así como con otros factores
Contacto
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Descripción del servicio
Microscopía de fuerzas átomicas de materiales de construcción
Cuadro de opciones y precios
Opciones | Unidad | Sector público | Otros clientes |
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AFM | € / muestra | 254.31 € | 278.53 € |
Contacto
Otras prestaciones de servicio
- Porosidad
- Análisis elementos: ICP-OES
- Preparación metalográfica
- Caracterización estructural: XRD en polvo cuantitativo
- Análisis elementos: XRF Mayoritarios
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Microanálisis de rayos X por dispersión de longitudes de onda (WDS) y catodoluminiscence (CL)
- Porosity
- Analysis of elements: ICP-OES
- Metallographic preparation
- Structural Characterization: Quantitative X-ray powder diffraction analysis
- Elemental analysis: XRF Majority
- Scanning probe microscopy: AFM (Atomic Force Microscopy)
- Scanning electron microscopy (SEM): Wavelentgth dispersive X- ray spectroscopy and cathodoluminescence (CL)
Datos Generales del Servicio
Datos del servicio
- Unidad de servicio: Laboratorio de Microscopía Electrónica de Barrido y AFM
- Instituto: INSTITUTO DE CERAMICA Y VIDRIO
- Localidad: Madrid (Madrid)
Descripción del servicio
Caracterización morfológica y microanalítica de materiales orgánicos e inorgánicos mediante imágenes electrónicas y microanálisis de rayos X por dispersión de energía. Dependiendo de los detectores que tengan los diferentes microscopios es posible obtener imágenes de electrones secundarios, retrodispersados, transmitidos, etc. imágenes que proporcionan información morfológica y composicional. Mediante el detector de rayos X acoplado al SEM, al cual le llegan los rayos X generados en la muestra por interacción del haz de electrones, se obtiene información microanalítica cualitativa o cuantitativa de las diferentes áreas de observación.
Contacto
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Descripción del servicio
La microscopia atómica de fuerzas permite obtener imágenes tridimensionales, con resolución atómica o molecular, de la superficie de muestras conductoras o no conductoras, sin preparación especial. También se pueden realizar medidas de modulación de fuerzas así como imágenes de "volumen de fuerzas" para tener información sobre diferencias de propiedades elásticas. Los estudios se pueden llevar a cabo en condiciones ambientales o en medio líquido.
Cuadro de opciones y precios
Opciones | Unidad | Sector público | Otros clientes |
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Atomic Force Microscopy | Sesión | 48.14 € | 61.9 € |
Contacto
Otras prestaciones de servicio
- Microscopía electrónica de barrido (SEM): Bajo voltaje
- Microscopía Electrónica de Barrido (SEM): Espectroscopia de rayos X por dispersión de energía
- Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
- Scanning electron microscopy (SEM): Low voltage SEM
- Scanning electron microscopy (SEM): EDS(Energy Dispersive X-rays spectroscopy)
- Scanning probe microscopy: AFM (Atomic Force Microscopy)
Datos Generales del Servicio
Datos del servicio
- Unidad de servicio: MICROSCOPÍA DE CAMPO CERCANO
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID
- Localidad: Madrid (Madrid)
Descripción del servicio
El servicio de SPM del ICMM se creó como un servicio externo interno para suministrar caracterización adicional superficie en una amplia gama de actividades de investigación. Las instalaciones de servicio SPM son un sistema de AFM- MFM de Nanotec Electrónica que funciona en diferentes condiciones (condiciones ambientales , gases, humedad controlada). El SPM se utiliza para caracterizar diferentes propiedades de la superficie : Propiedades topográficas (imágenes de superficie tridimensional , rugosidad de la superficie , tamaño de grano ). Propiedades electricas ( conducción, electrostática y microscopía Kelvin) . Propiedades mecánicos ( nanoindentación y mapas de adhesión ).
Contacto
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Descripción del servicio
Microscopía de Campo Cercano en modo "Atomic Force Microscopy" en atmósfera controlada
Cuadro de opciones y precios
Opciones | Unidad | Sector público | Otros clientes |
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Atomic Force Microscopy | Sesión | 270.32 € | 296.07 € |
Contacto
Datos Generales del Servicio
Datos del servicio
- Unidad de servicio: MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS
- Instituto: INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE BARCELONA
- Localidad: Cerdanyola del Vallès (Barcelona)
Descripción del servicio
Servicio de Microscopia de Fuerzas Atómicas (AFM). Realización de imágenes de topografía, tanto en modo contacto como en dinámico, incluyendo imágenes específicas para contraste de fase, AFM bimodal, así como Microscopia de Fuerzas Laterales. La máxima precisión factible es de 0.02 nm, y la área máxima de scan 90x90x15 um3 en X/Y/Z. Caracterización mediante modos avanzados de AFM: (i) AFM de conducción, en donde se utiliza el módulo Resiscope V2 para medir corriente desde los pA hasta mA, aplicando hasta ±10V. (ii) Análisis mediante Microscopia de Piezorespuesta (PFM), incluyendo alta frecuencia y voltaje (hasta 3 MHz y 70 Vpp). (iii) Microscopia de Fuerzas Kelvin (KFM), en modo de pasada única, utilizando dos modos de resonancia, el primero es topográfico, mientras que el segundo obtiene la señal eléctrica. (iv) Microscopia de Fuerzas Eléctricas (EFM) y (v) Magnéticas (MFM). (vi) También se pueden realizar experimentos de nanolitografía SPM (electroquímica y por rayado).
Contacto
Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica (AFM)
Descripción del servicio
En el modo dinámico se utiliza modulación en amplitud. Además de las imágenes de topografía, también se pueden obtener imágenes de fase, simultaneamente a las obtenidas para la topografía.
En el modo contacto se obtienen imágenes de topografía y, al mismo tiempo, de fricción, utilizando el modo de Microscopia de Fuerzas Laterales.
Se pueden realizar los ensayos en humedad relativa baja, menor al 3%, y en ambiente de gas nitrógeno. También se dispone de una celda especial para la caracterización de materiales en líquido. El equipo es compatible con varios tipos de disolventes, incluida la acetona.
El máximo tamaño de imagen realizable es de 80 micras x 80 micras, con una resolución máxima de 8192 x 8192 puntos.
Además de la realización de imágenes, el servicio puede realizar espectroscopias, en las que se realizan medidas de fuerza-distancia, pudiéndose obtener valores de la adhesión del material así como una medida relativa de la dureza de los distintos materiales presentes en la muestra.
Para la realización de imágenes en topografía, se dispone de los siguientes equipos:
Agilent 5500LS, escáner de 80x80 um2 en X/Y y de 15 micras en el eje Z. Está equipado con con el módulo Mac MODE III y el Signal Access Box, lo que nos permite realizar el modo Bimodal AFM. También dispone de un dispositivo Closed Loop que mejora notablemente el posicionamiento en X e Y. Además cuenta con una estación motorizada con precisión de ~3 micras, y un rango de ~15 cm en X/Y y 3 cm en Z, por lo que las muestras pueden tener un tamaño de hasta 25 x 25 cm2 y 3 cm de grosor. El equipo dispone de la opción ¿Q-Control¿, para mejorar las imágenes en líquido. Dispone de un dispositivo para medir humedad y temperatura, y de un módulo calefactor de muestras. El ruido eléctrico del equipo es del orden de 0.05 nm.
Agilent 5100, escáner de 70 x 70 um2 en X/Y y de 6 micras en el eje Z. Está equipado con una celda especial de líquidos y una cámara de ambiente controlado para la realización de estudios en nitrógeno o argón. El tamaño de muestra máximo es de 3x3 cm2 en X/Y y de 1 cm de grosor. Este equipo puede utilizar un módulo generador de campos magnéticos externos, pudiendo aplicar hasta 800 Oe a las muestras durante las medidas AFM. El uso del equipo está especializado en imágenes de topografía de gran resolución, con un ruido medio de 0.02 nm.
Cuadro de opciones y precios
Opciones | Unidad | Sector público | Otros clientes |
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Agilent 5100 | euro / hora | 51.9 € | 80.96 € |