Áreas de investigación
Ciencia y Tecnología de Materiales

Grupo
Análisis y Métodos Físicos

Subagrupación
Óptica y Fotónica

Elipsometría de capas delgadas sobre silicio

Información relativa a las unidades que ofrecen la prestación seleccionada
Unidad de servicio Información de la unidad de servicio Prestación seleccionada Otras prestaciones de servicio

ESPECTROFOMETRÍA DE INFRARROJOS Y ELIPSOMETRÍA

ICMM - Madrid

Laboratorio de Caracterización Superficial

ICV - Madrid

Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación

IMB-CNM - Cerdanyola del Vallès

PLATAFORMA NANOQUIM

ICMAB - Cerdanyola del Vallès