MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISION

La unidad ofrece tanto al ICMM como a usuarios externos los medios adecuados para la micro y nano-caracterización de materiales por TEM. El servicio incluye un microscopio TEM JEOL 2000FX que trabaja en voltaje de aceleración de 200 kV con una unidad de microanálisis de rayos X ( XEDS ) . Este equipo puede obtener imágenes con una resolución máxima de 3,3 Å, diagramas de difracción de electrones y análisis elemental. Estas tres técnicas se pueden aplicar casi simultáneamente para caracterizar localmente los materiales en un rango de unos pocos nm. El microscopio cuenta con un sistema digital de "Image Plate" para adquirir imágenes y los patrones de difracción de electrones con la más alta definición, sensibilidad y alto rango dinámico. Además, la señal emitida desde la placa durante la lectura es directamente proporcional a la dosis de electrones recibida. Este servicio dispone de la acreditación de la Red de Laboratorios e Infraestructuras de la CAM no. reg. 321