Áreas de investigación
Ciencia y Tecnología de Materiales

Grupo
Microscopía, Microanálisis e Imagen

Subgroup
Fuerza Atómica / Efecto Tunel

Scanning probe microscopy: C-AFM (Conductive Atomic Force Microscopy)

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MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS

ICMAB - Cerdanyola del Vallès

LABORATORIO DE CARACTERIZACIÓN DE SUPERFICIES

CENIM - Madrid