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Ciencia y Tecnología de Materiales

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Microscopía, Microanálisis e Imagen

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Fuerza Atómica / Efecto Tunel

Scanning probe microscopy: C-AFM (Conductive Atomic Force Microscopy)

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MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS

ICMAB - Cerdanyola del Vallès

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LABORATORIO DE CARACTERIZACIÓN DE SUPERFICIES

CENIM - Madrid

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